样品断电时,试验样品应按标准要求放置在试验箱内,试验箱(室)内温度应降至-50℃,保持4小时;不要在样品通电状态下进行低温测试,这一步非常重要,因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此,在通电状态下,通常更容易通过低温试验,必须先冻透,再通电试验。
1、测试装置,包括样品室、电极,用于磁性收集在所述电极表面上的颗粒的装置,光检测装置,其中,样品室对样品具有含限定含量,且具有垂直柱状区和进料排料装置,电极基本上沿水平方向设置,并位于所述样品室和柱状区主要部分下面。
低气压试验就是将试验样品放入试验箱(室),然后将箱(室)内气压降低到有关标准**的值,并保持**持续时间的试验。其目的主要用来确定元件、设备或其他产品在在贮存、运输和使用中对低气压环境的适应性。
品室位于镜筒的最下方,一般设置为高真空状态,除了放置样品外,还要在合适位置安放各种信号探测器。样品台也能够实现样品的平移、倾斜和旋转等动作,近年来的新式扫描电镜的样品室可使样品进行加热、冷却、拉伸、弯曲等试验。
扫描线圈的作用是偏转电子束,对样品表面进行有规律的扫描。电子束对样品的扫描作用和显像管的扫描作用是严格同步的,因为它们是由同一个扫描发生器控制的。除了在样品室中放置样品外,还放置信号检测器。